GB/T 17626.1-2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论

      GB/T 17626.1-2006 电磁兼容试验和测量技术 抗扰度试验总论为GB/T 17626 电磁兼容 试验和测量技术系列标准的第一部分。

      GB/T 17626.1-2006  电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论涵盖了电气和电子设备（装置和系统）在其电磁环境中的试验和测量技术。
      在过去，机电装置和系统对电磁骚扰（即传导、辐射电磁骚扰和静电放电）并不敏感。目前所使用的电子元件和设备对这些骚扰则要敏感的多，尤其是对“高频”和“瞬态”现象。由于电子元件和设备以惊人的速度投入运行，电的和电磁的骚扰引起的严重误操作、损坏等危险也随之增加。
      有关专业标准化技术委员会（或用户和设备制造商）需负责从GB/T 17626系列标准中选择适当的抗干扰度试验项目及设备适用的试验等级。但是为了提高这项工作的协调和标准化，专业标准化技术委员会或用户、制造商应考虑GB/T 17626.1-2006  电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论所给出的建议。
      GB/T 17626.1-2006  电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论等同采用IEC61000-4-1（2000）《电磁兼容第四部分：试验和测量技术 第一部分：抗扰度试验总论》。
      GB/T 17626.1-2006  电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论自实施之日起代替GB/T 17626.1-1998《电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论》。